SoC 测试系统 Model 3650-CX主要特色：

• 50/100MHz测试工作频率

• 256个 I/O 通道(I/O Channel)

• 16/32 MW vector 记忆体

• 16/32 MW pattern instruction 记忆体

• Multi-site 测试可达 32 sites

• 16个 DPS 通道

• 8个 PMU 通道

• Per-Pin 时序频率测试单位

• 可选购1024M bit x 4 CH scan depth

• 可选购记忆体测试用ALPG

• 高达 16 high-voltage pins

• 16 个高性能 DPS 通道

• 每片 VI45 类比单板可支援8~32通道

• 每片 PVI100 类比单板可支援2~8通道

• Windows? XP操作环境

• C++ 程式语言与图形人机介面设计

• 采用CRISP完整多样的系统软体工具

• 与周边设备相容性高

• All-in-One小型化气冷式机台设计，节省占地面积

• Cable Mount / Direct Mount

SoC 测试系统 Model 3650-CX应用领域：

      MCU/MCU + 嵌入式记忆体

• NAND Flash Controller

• PC I/O

• Switch ICs

• 智慧型电源管理装置

• 混合讯号、数位式、类比式 ICs

• ADC/DAC/CODEC ICs

• 各类消费性产品IC

• 适用工程研发、晶粒测试及 Final Test

• 电源 IC

• LED 驱动 IC

Chroma 3650-CX实现高性价比的IC测试系统 
3650-CX采用All-In-One的小型化设计，除了拥有相当竞争性的机台价格之外，并具备高准确 性与高生产力。因此，能够降低客户的测试成本与提升IC产品的利润。3650-CX具备多样化的 测试能力与强大的软体工具，能够用来测试包含MCU，NAND flash controller, PC周边相关的 IC，Switch，LED驱动IC，以及Power IC和SoC等 产品。

强大且功能完整的3650-CX系统软体 - CRISP 
架构在Windows XP作业系统上的Chroma 3650-CX 的软体测试环境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform)，是一个结合工程 开发与量产需求的软体平台。主要包含四个部 份 : 执行控制模组、资料分析模组、程式除错 模组以及测试机台管理模组。透过亲切的图形 人机介面的设计，CRISP提供多样化的开发与除 错工具，包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 与Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等软体模组，可满足研发/测试工程师开发程式时的需求与产线人员量产时的需求。

All-in-One小型化机台设计节省占地面积 
3650-CX将所有的测试仪器模组与机台的电源系统全部整合在单一个测试头的空间里，并且采用 气冷式的设计。透过如此高整合度的小型化设 计，可以大幅减少机台的占地面积，以节省整体 的测试成本。

周边设备 
Chroma 3650-CX支援多种装置的驱动程式介面 (TTL & GPIB) ， 可进行与晶圆针测机和送料机， 包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等装 置之间的沟通。