禾苗 镀层膜厚测试仪E3-3D

外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （长x宽x高）
样品仓尺寸：360mm×400mm x160（长x宽x高，高度可定制）
仪器重量：50kg

供电电源：AC220V/ 50Hz
功率：330W
工作温度：15-30℃
相对湿度：≤85%，不结露

探测器

类型：X123探测器（原装进口高性能电致冷半导体探测器）
Be窗厚度：1mil
 晶体面积：25mm2
分辨率：145eV
信号处理系统：DP5

X射线管
电压：0-50v
电流;2mA
功率:50W
靶材：Mo
Be窗厚度：0.2mm
使用寿命：大于2w小时

高压电源
输出电压：0-50Kv
灯丝电流0-2mA
功率：50w
纹波系数：0.1%（p-p值）
8小时稳定性：0.05%

摄像头

焦距：微焦距
驱动:免驱动
像素：500万像素
准直器、滤光片
系统：快拆卸准直器、滤光片系统
材质：多种材质准直器
光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选

十字激光头
光斑形状：十字线
输出波长：红光650nm
光学透镜：玻璃透镜
尺寸：Φ10×30mm
发散角度：0.1-2mrad
工作电压：DC 5V
输出功率：<5mW
工作温度：－10～50℃

其它配件
开关电源：进口高性能开关电源
散热风扇：进口低噪声、大风量风扇

样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线
辐射标志警示
仪器经权威第三方检测，X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》
硬件技术
X射线下照式，激光对焦可调样品仓，对于异形不平整样品，无需拆分打磨，可直接测试
模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率
光斑0.2mm，可针对各种样品中的小测试点准确定位，避免材质干扰，测量结果更准确
空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；静音设计
电路系统符合EMC、FCC测试标准

软件技术
分析元素：Na~U之间元素
分析时间：90秒
界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作
数据一键备份，一键还原、一键清理功能，保护用户数据安全
根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度
配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型。

根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度。
配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型。

禾苗 镀层膜厚测试仪E3-3D

禾苗 镀层膜厚测试仪E3-3D

禾苗 镀层膜厚测试仪E3-3D