HIOKI/日置IM7587阻抗分析仪基本特征

● 测试电压测量频率：1MHz~3GHz

● 测量时间：0.5ms（模拟测量时间）

● 测量值偏差：0.07%（用3GHz测量线圈1nH时）

● 基本精度：±0.65% rdg.

● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小

● 丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）

● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量

阻抗分析仪IM7587：等效电路分析功能

能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。

IM7587阻抗分析仪：使用SMD治具IM9201进行LCR测量

IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz?3GHz。

和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。

阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。

HIOKI/日置IM7587阻抗分析仪基本参数

测量模式LCR (LCR测量),分析仪 (扫频测量), 连续测量 

测量参数Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q 

精度保证范围100 mΩ~5 kΩ 

显示范围Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)

Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)

θ: ± (0.000°~180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)

D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)

G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) 

基本精度Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° 

测量频率1 MHz?3 GHz (设置分辨率100 kHz) 

测量信号电平功率 (dBm)模式： -40.0 dBm~ +1.0 dBm

电压(V) 模式: 4 mV~502 mVrms

电流(I) 模式: 0.09 mA~10.04 mArms 

输出阻抗50 Ω (10 MHz时) 

显示彩色TFT 8.4英寸, 触摸屏 

测量时间0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值） 

功能接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 

接口EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN

RS-232C (选件), GP-IB (选件) 

电源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max 

体积和重量主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg

测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g 

附件测试头×1, 连接线×1, 使用说明书×1, CD-R (通讯说明书) ×1, 电源线×1 

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