日立X-Strata920镀层测厚仪

使用X射线荧光(XRF)进行的镀层厚度测量是经过证明的快速的分析技术，X-Strata920设计为面向电子产品和金属表面 处理，测量单层和多镀层(包括合金层)，应用对 X-Strata920 进行了进一步升级， 获得、可重复结果，满足数百种应用，包括 PCB 表面处理、连接器镀层、耐腐蚀处理、装饰表面 处理、损处理、处理等。

X-Strata920这一出色的工具可样品合规格，同时通过避免过度电镀和返工来降。操作员加载样品，将其定位在屏幕上的目标下方，使用激光焦点对齐，即可开始测量。结果在几秒内即可显示出来，然后操作员可快速执行下一个任务。得益于通过可追溯标准打造的优化校准方式，您将对结果的准确性充满信心。

使用X-Strata920可遵从各种行业规范，如-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。