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产品属性
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测量程序自动化,高重复,智能分析SPC系统
1、大范围测量,满足大板测量要求
2、高解释度CCD,精密的激光头,测量高而稳定
3、彩色影像2D尺寸检查功能
4、模拟3D测量功能
5、高重复测量,测量程序自动化
6、设计刚性架构,消除环境影响
7、智能化SPC分析系统
8、过炉后板异或弯曲时Z轴自动对焦校正,数据自动补偿
产品特性
1、3D扫描测量,3D模拟观察
2、PCB多区域编程扫描
3、自动化、重复性测量
4、XY大扫描范围
5、Z轴伺服,软件校正,板弯自动补偿
6、板弯夹具
7、一键轻触开盖(可以订做透明机盖)
8、五档视野调节
9、强大SPC功能
10、产品及生产线管理
11、自动测量模式时,扫描完毕报警并自动关闭红色镭射线,以镭射灯的使用寿命。
12、根据PCB的不同亮度以及周边环境亮度的不同,可以调整镭射线和LED无影灯的光照亮度,从暗到强。
功能介绍:
Walscan III 3D锡膏测厚仪是一代3D锡膏测量仪器,搭配Windows XP操控系统,高的XYZ三轴驱动,的硬件配置,与其简捷的外观设计相得益彰,它将给您带来测量工作的简易,快捷和。适合全板检测,可检测锡膏厚度,体积,面积,位置偏移,形状不良,少锡,多锡,连锡,漏印等不良。
基本原理:
精密激光线,位移测量;了解锡膏锡膏形状规则;采用3D扫描获取整体数据。
应用范围:
锡膏厚度&外形测量;
芯片邦定,件共平面度,
BGA/CSP尺寸和形状测量;
钢网&通孔之尺寸及形状测量;
PCB焊盘,图案,丝印之厚度及形状测量;
IC封装,空PCB变形测量;
其他3D量测,检查、分析解决方案。
规格参数:
工作平台 | 可测量PCB:390×300mm | 测量模式 | 单点高度测量 |
选框内平均高度测量 | |||
XY扫描范围:390×300mm | 3D视野自动高度测量 | ||
可编程,多区域3D自动高度测量 | |||
其他尺寸工作平台可订制 | 可编程,平面几何测量 | ||
测量光源 | 精密红色激光线,高度可调 | 3D模式 | 3D模拟图 |
照明光源 | 高亮白光LED灯圈,高度可调 | SPC模式 | X-Bar &R cart |
XY扫描间 | 10um-50um,可设定 | 直方图分析 Ca/Cp/Cpk/Pp/Ppk | |
扫描速度 | 60FPS | 数据分析,全SPC功能 | |
扫描范围 | 任意设定390×300mm | 资料导出,预览,打印等 | |
XY移动速度 | 可调35mm/s | 产品,产线,数据分析,管理 | |
高度分辨率 | 1um | 其他功能 | Z轴板弯自动补偿 |
重复测量 | ±2um | 软件板弯补偿 | |
镜头放大倍数 | 20X-110X,5档可调 | 测量产品,生产线管理 | |
测量数据密度 | 130万像素/1680*1024 | 参数校正,保护 | |
Z轴板弯补偿 | 10mm | 选框记忆 | |
工作电源 | 110V,60Hz/220V,50Hz AC | PC及操作系统 | 双核CPU+显卡 |
Windows XP | |||
设备尺寸 | 870×650×470mm | 设备重量 | 75KG |
自动功能 | 可编程,自动重复测量 | 指示灯与按键 | 红黄绿指示灯 |
1键到设定位置 | 紧急停止开头 | ||
自动测量 | 报警蜂鸣器 |
光学参数:
电动伺服平台 | CCD摄像机 | ||
平台尺寸 | 400mm×300mm | 频率 | 60 场/秒 |
行程 | 350mm(水平)×270mm(垂直) | 制式 | PAL |
传感器 | 1/3" | ||
3D扫描 | 分辨率 | 1024pixel×1280pixel | |
扫描范围 | 单视场,可编程 | 视场 | 22.8mm×17.1mm |
扫描间距 | 0.010mm~0.050mm可调 | 视场 | 3.2mm×2.4mm |
测量 | ±0.002mm | 其他 | |
重复 | 0.004mm | 测量光源 | 精密红色激光线 |
照明光源 | 环型白色LED照明 | ||
其他测量功能 | 2维测量,数据管理,其他元器件,线路,油墨高度等扫描测量 3D模拟显示,可编程多处自动扫描测量, |
3D锡膏测厚仪厂家/锡膏厚度检测仪,锡膏检测设备,