布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 轻敲模式 OLTPA-R3

更易定位，更适合如按样品。

此型号为布鲁克贴标产品，同型号奥林巴斯OMCL-AC240TS-R3 探针。

悬臂共振频率：70(50~90) kHz（空气中），弹性系数：2 N/m。

针尖曲率半径：7nm（典型值）

AL涂层。

1.较小弹簧常数更适合测量软样品

2 N / m的弹簧常数是AC模式的硅悬臂中的，适用于观察软样品的表面形貌和粘弹性。

2.用低电阻率硅测量表面电位

悬臂基材采用N型掺杂硅，表面电阻为0.01-0.02Ω·cm（是其他基材表面电阻的1/200）。这可以用于测量表面电位和其他应用。

3.理想情况下指向终止探针

四面体探针的顶点理想地是点终止的。

从正面看，四面体探针显示出良好的对称性。考虑几何特征，选择快速扫描（X）方向。检查扫描线轮廓和顶点的放大视图。

4.好评的'TipView'结构

由于'TipView'结构，探头可以轻松定位在您感兴趣的位置。

探头位于悬臂的末端，以便在光学观察期间探头顶点不会被遮挡。

5.反射侧铝涂层

在悬臂上涂覆厚度为100nm的薄铝膜，用于反射来自AFM设备中的偏转传感器的光。可以预期用于高S / N感测的高反射。

详细规格：

延展阅读：

关于布鲁克：

布鲁克公司以的生产工艺，的AFM领域背景，的生产装备，赋予探针制造众多的优势，在广泛的应用领域中提供完整的AFM解决方案。

布鲁克AFM探针制造中心优势：

*Cl100级别的室

*的设计、制造工序及制造工具

*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密

*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针

*的质量管理体系，探针性能行业

在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的背景。所以用户尽可放心，我们的探针不为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

原子力显微镜AFM探针:  

探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式

探针的结构：悬臂梁+针尖

探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。

制作工艺：半导体工艺制作

指标：

探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。

1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。

2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTP的弹性常数是40N/m。

3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁末端的水平距离。

材质：

1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTP；

2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；

3. 功能探针：如磁力探针（MP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。

常用探针型号介绍：

  常用探针型号介绍

1. 轻敲模式，RTPA-300，TP，FP

2. 接触模式，SNL，NP，

3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+

4. 磁力显微镜，MP-V2,MP-RC-V2

5. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDP，SCM-PIT，SCM-PIC等。

6.  其他功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。