技术参数  

1   分析元素范围：S-U

2   可分析多达3层以上镀层

3   分析厚度检出限达0.02μm

4   多次测量重复性可达0.05μm

5   定位：0.5mm

5   测量时间：30s-300s

6   计数率：1000-8000cps

7   仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.02—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。

仪器性能特点 

1. 长效稳定X铜光管
2.半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
3.采用天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE）
4.内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
5.脉冲处理器，数据处理快速准确
6.手动开关样品腔，操作安全方便
7.三重安全保护模式
8.整体钢架结构、外型高贵时尚
9.FP软件，无标准样品时亦可测量

质量保证

1. 乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修；

2. 软件升级：如有软件升级，乙方将提供软件升级，不再收取升级费用；

3. 保修条款

3.1. 仪器设备自验收合格之日起保修1年；

3.2. 保修期内，维修相关费用全免；

3.3. 保修期结束后，乙方为甲方提供维修服务的资费标准如下：

交通费、住宿费由甲方承担；

资费标准：硬件成本费用——按乙方时价计算

硬件运输费——实报实销

服务费——300元 / 人 / 天

人员交通费——实报实销

人员住宿费用——￥200元/天

4. 技术服务的响应期限：提供*有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。

5. 由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中，具体事例双方协商解决。

技术指标

多镀层分析，1～5层

测试：0.001 μm

元素分析范围从铝(Al)到铀(U)

测量时间：10~30秒

SDD探测器，能量分辨率为125±5eV

探测器Be窗0.5mil（12.7μm）

微焦X射线管50KV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）

6个准直器及多个滤光片自动切换

 XYZ三维移动平台，荷载为5公斤

 高清CCD摄像头（200万像素），准确监控位置

多变量非线性去卷积曲线拟合

高性能FP/MLSQ分析

仪器尺寸：618×525×490mm

样品台尺寸：250×220mm

样品台移动范围：前后左右各80mm、高度90mm

图谱界面

软件支持无标样分析

超大分析平台和样品腔

集成了镀层界面和合金成分分析界面

采用多种光谱拟合分析处理技术

镀层测厚分析可达到0.001μm

分析结果

直接打印分析
可转换为PDF，EXCEL格式