X镀层测厚仪
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X荧光镀层测厚仪thick800a采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
| ?仪器外观选用独特的流线型设计，时尚雅致 | ?同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U） |
| ?可以分析最多5层镀层，可分析元素多达24种 | ?无需复杂的样品预处理过程，无损测试 |
| ?检出限可达到2ppm | ?分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm |
| ?采用美国原装、国际先进的探测器，能量分辨率高 | ?采用美国原装、国际先进的AMP，处理速度快，高，稳定可靠 |
| ?X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示 | ?采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品 |
| ?采用电动无极控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便 | ?采用双激光对焦系统，准确定位测量位置 |
| ?高度传感器 | ?保护传感器，有效保护探测器 |
| ?度高，稳定性好，故障率低 | ?辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保 护，辐射安全性可靠 |
1.X-Y-Z样品平台移动装置
thick800a系列X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。
2.X射线管激发系统
激发系统采用独特的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、国际先进水平的X光管，指标达到国际先进水平。功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。
3.高分辨率的探测器系统
进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。分辨率能达到149eV±5ev。
4.能谱仪电子学系统
原装进口前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。模数转换器采用高的2048道。
5.计算机分析系统
品牌计算机；高分辨率彩色液晶显示器。喷墨打印机。
6.系统软件
国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的准确性。
7.电源
AC 220V～240V、50Hz 。额定功率：120W。选配高参数稳压电源。
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。