super2400XRF荧光光谱仪 天瑞
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XRF荧光光谱仪产品介绍

 

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XRF荧光光谱仪(SUPER2400)是一款功能强大的检测仪器。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和特有的光路系统测试 (超锐模式),普通模式能完成全元素,贵金属,RoHS,镀层、合金成份、矿石元素含量等常规测试,超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更的测试。主要是使用天瑞仪器特有超锐光路系统,降低仪器的背景噪音,提高仪器的检出能力,从而提高仪器的整体检测性能,满足客户的不同测试需求

 

XRF荧光光谱仪性能特点

 

特殊光路系统

采用特殊的光路系统,可满足不同基体中痕量元素的测量,提高信噪比,降低检出限。

400W大功率X光源

400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率,比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级,更加适合痕量元素的检测。

数字多道技术

采用新数字多道技术,仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量,缩短了测量时间。

油冷散热系统

油冷散热系统,保证了大功率X光源的散热,使仪器的运行更加稳定。

光闸系统

光闸系统,保证X光源的稳定性,同时提升X光管使用寿命。

抽真空系统

抽真空系统,可以满足轻元素的测量。

自动进样系统

自动进样系统,可以连续检测十二个样品,大大提高了测试人员的工作效率。

 

XRF荧光光谱仪标准配置

 

超锐X光源和样品激发机构

上盖电动开关的大容量样品腔

可自动切换的准直器,滤光片

高清晰CCD摄像头

SDD探测器

数字多道采集处理系统

高低压电源

进口400W端窗光管油冷散热系统,具有自动控温功能

样品自动切换系统

全自动真空系统

XRF分析软件

计算机及喷墨打印机

外观尺寸: 752(W)x759(L)x 988(H)

样品腔尺寸:¢376×50 mm

重量:小于250Kg

 

XRF荧光光谱仪技术指标

 

XRF荧光光谱仪元素分析范围从钠(Na)到铀(U)

分析含量一般为0.1ppm到99.9%

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

温度适应范围为15℃至30℃

可进行测试模式之间的转换,提高测试的效率

可对10个样品进行自动切换测试,满足大批量测试要求。

可同时分析多几十种元素

分析检出限可达0.1ppm

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

 

XRF荧光光谱仪应用领域

 

SUPER2400 XRF荧光光谱仪不仅可满足中心实验室和分包实验室的分析需要,而且适用于环境监测、化工、钢铁、采矿、鉴定、食品、电子、水泥和冶金行业。