x射线荧光测厚仪

产品介绍

X射线荧光测厚仪是客户在采购过程中比较关心的一个问题，首先客户考虑自己的一个测试要求，另外根据公司的实际发展需要进行综合，不能盲目的崇拜国外品牌，也不能一味的追求低价格，选择合适的才是硬道理，天瑞仪器是一家X射线荧光测厚仪厂家，分析仪器上市企业，产品打破了国外垄断局面，得到了客户的广泛应用和认可。

技术指标

型号：Thick 800A

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

标准配置

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

计算机及喷墨打印机

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

X荧光镀层测厚仪——天瑞仪器是您放心的选择。