SCG高低温真空探针台
价格:¥1.00
地区:广东省 深圳市
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低温和高温真空探针台SEMISHARE真空环境高低温测试技术以下两个应用需要真空测试环境。低温测试:因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大或者探针无法接触电而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。高温无氧化测试:当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。 晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,SEMISHARE针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。 SCG-C-4(闭循环)/SCG-O-4(开循环)特点:载物Chuck 温度范围:4K-500K 外置4个定位针臂,预留2个探针X-Y-Z三方向移动,行程:25.4mm,定位:10微米多可以外置6个定位针臂载物chuck 可到8英寸双屏蔽chuck高低温时100FA 的测试针臂定位可以升级为0.7微米可以选择射频配件做67 GHz的射频测试可以选择震桌可以选择真空腔体,限真空到10-10 torr客户订制 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
温控规格:
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