Agilent 8753C|HP-8753C|HP8753C 6G射频网络分析仪 300kHz-6G 品牌：安捷伦Agilent惠普HP◆频率范围：30 kHz至3 GHz（标配）；300 kHz至3 GHz（选件011）；30 kHz至6GHz（选件011、006）◆集成化1Hz分辨率合成信号源 ◆用外部磁盘驱动器直接存储/调用◆时域分析◆用测试序列功能实现复杂的测试过程◆达100dB的动态范围◆可测量群延迟和与线性相位的偏离◆0.001dB，0.010，0.01ns的标记分辨率◆内置◆扫描谐波测量 描述HP8753C网络分析仪为实验室和生产测试领域提供了的RF网络测量设备。当组合一套测试装置，它为分析300kHz~6GHz的有源和无源网络、器件与元件的线性特性提供了完满的解决途径。网络分析仪有两个的显示通道，你可以同时测量待测器件的反射和传输特性，并以重叠或分离屏面的形式观察测量结果。便于使用的预编程按键使你能快速测量待测器件的幅度、相位或群延迟特性。测试时序功能允许键入来、反复执行复杂的任务。在时序工作方式下，从面板测量，分析仪便能储存键入，以至无需额外编程。还可以利用测试时序经HP-IB端口对其它装置进行控制。另一些效率的措施包括绘图仪/打印机缓冲区、限测试、任意频率测试和标记跟踪功能。分段校准和内插误差修正能HP8753C分析仪已校频率范围的某一区段上的矢量。集成化的合成信号源提供大于100mW的输出功率、1Hz频率分辨率和线性、对数、列表、功率和连续波扫描类型。三个调谐接收机在300kHz ~ 3GHz（选件006扩展到6GHz）上在过100dB的动态范围内进行功率测量或同时进行比值测量。当HP8753C连接HP85047A测试装置时，可以从300kHz~3GHz或从3MHz~6GHz（测试装置带有倍频器）研究待测设备的反射和传输特性。 非线性器件测试HP8753C具有测量非线性器件特性的能力，当增加了谐波测量功能（选件002），可以直接或相对于基本载波（dBc）显示放大器的扫描、二次和三次谐波电平。当一个作为基本信号的扫描频率低于16MHz时，可以快速和方便的测量达40dBc放大器谐波，使用同样的测试设备通常还用来测量增益。功率计校准相对输入或输出电平敏感的器件提供稳幅的功率。HP8753C自动对HP436A、HP437B、或HP438A功率计进行控制，使在测试系统中任何处的功率都调到具有功率计的。分析仪还完成混频器统调和变频损耗测量。还能进行固定IF和扫描IF测量。 时域分析HP 8753C（带选件010）具有显示网络时域响应的功能，分析仪计算频域响应的傅立叶逆变换，显示网络的反射或传输系数与时间的关系。HP 8753C提供了两种时域模式，低通模式提供传统的时域反射计（TDR）测量能力，并给出网络的阶跃响应和冲击响应。这种模式给出在不连续状态的阻（R，L，C）类型的信息。带通时域模式，只有脉冲激励，没有频率限制，并给出频率选择设备的时域响应，比如SAW滤波器或天线。选通功能可以用来选择性隔离一个信号响应，并观察一个没有自身线路干扰的部件的单个部分的频域响应。 HP 8753C一般技术指标信号源频率特性范围：300kHz ~ 3GHz分辨率：1Hz准确度（25℃）：±10ppm输出特性功率范围：-5 ~ +20dBm电平（50MHz，+10dBm）：±0.5dB电平线性：-5~0dBm：±0.5dB；0~15dBm：±0.2dB+15~+20dBm：±0.5dB阻：50Ω谐波：≤-25dBc（20dBm输出电平）≤-50dBc（0dBm输出电平）非谐波与混频器有关的非谐波寄生信号：≤-32dBc（20dBm输出电平）≤-55dBc（0dBm输出电平）其它寄生信号：f<135MHz：-60dBcf≥135MHz：-60dBc+20*log（f/135MHz）dBc相位噪声（1Hz带宽，10kHz偏置）：f<135MHz：-90dBcf≥135MHz：90dBc+20*log（f/135MHz）dBc 接收机频率范围：300kHz~6GHz输入：A，B 100dB动态范围<3GHz，95dB动态范围3~6GHz灵敏度（噪声电平）：3kHz带宽：-90dBm<3GHz；-85dBm 3~6GHz10Hz带宽：-100dBm<3GHz，-95dBm 3~6GHz输入电平：0dBm阻：50Ω输入交叉干扰：300kHz~1GHz：-100dB1GHz~3GHz：-90dB3GHz~4.5GHz：-85dB4.5GHz~6GHz：-75dB动态：±0.05dB，±0.3o 群延迟特性范围：1/（2×小孔径）孔径：可选择的：频率间隔的20%小：（频率间隔）/（点数-1）分辨率：27.8/孔径（Hz）典型值0.01ns：相位/360×孔径（Hz）射频连接器：50ΩN型（阴） 结构特性尺寸：178mm（高）×425mm（宽）×498mm（长）重量：净重22公斤 S参数测试装置这个S参数测试装置提供用连接便能测量二端口器件在任何一个方向上的反射和传输特性（包括S参数）的功能。测试装置由分析仪控制，并包括程控步进衰减器。 HP85046A/B S参数测试装置HP85046A/B测试装置能同时分别测量50Ω和75Ω器件的传输和反射特性。