X荧光光谱仪样品薄膜CAT. 6  

X荧光光谱仪样品薄膜

产品详细信息：

Pre-Perforated Thin-Film Sampel Supports

PROLENE? FILM

CAT. NO：416

Gauge：0.00016”，4.0 μm；0.16mil，40,640A

Typical Impurities，PPM：Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, Al

Chemplex? INDUSTRIES，INC.

ROLL：3” x 300’ (7.6cm x 91.4m)； Lot No：082176。

     在用X荧光光谱仪进行ROHS检测，WEEE检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。

     选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。