手持式涂层测厚仪      型号： JJCS8202

 完成磁感应和电涡流测量自动转换 
应用双功能测量技术，能够自动识别磁性或非磁性底材，然后采用相应的测试方法，适用于各种测量环境。可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。 
  
    JJCS8202涂层测厚仪是具有广泛使用范围的磁性和非磁性及两用仪器。其技术参数完全符合标准。 
本仪器是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护必备的仪器。 
Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度，例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。 
NFe质探针检测所有缘涂层厚度，例如漆、塑料、瓷等。这些涂层须涂在诸如铝、铜、黄铜或不锈钢等非磁性金属基体上。 
  
手持式涂层测厚仪 ●采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度； 
●能快速自动识别铁基体与非铁基体； 
●可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准； 
●可采用基本校准修正法对测头系统误差进行更新修正，保证仪器在测量过程中的准确性； 
●负数显示功能，保证仪器零位点校准的准确性，提高测试； 
●操作过程有蜂鸣声提示； 
●两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式； 
●电池电压指示：低电压提示； 
●微功耗设计，在待机装态不到10微安的电流； 
●测量方法：F 磁感应  NF  涡流。 
   技术参数： 
测量范围：0~1250um (其他量程可订制)  
分辨率：0.1/1 
小曲面: 凸 5mm/ 凹 5mm 
小测量面积：10×10mm 
薄基底：0.4mm 
使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-85%RH 
测量准误差：零点校准 ±（1+3%H）；手持式涂层测厚仪二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5 
公制/英制：可转换 机身尺寸：102mm x 66mm x24mm 
电源：2节5号电池 
重量：99g（含电池） 
    
附件：  
标准片5片：50μm、100μm、250μm、500μm、1000μm（选配：12μm、25μm）  
基体2块（铁基体、铝基体）  
说明书1份 
电池2节 
保修卡1张 
推荐理由： 
一、周到的售后服务： 
1）本仪器自售出之日起一周内在保证外观及仪器完好无损情况下可无条件退货（运费自付）； 
2）自售出之日起一个月内，如发生性能故障，产品本身及包装完好无污染及划伤，可更换同型号产品（人为损伤除外），更换其它型号产品须另外计算价格； 
3）产品自售出之日起保修一年，终身维护，但配件不在保修范围内； 
4）保修服务只限正常使用下有效； 
5）保修期间由我公司提供邮寄费。 
  手持式涂层测厚仪二、的产品品质 
●铁基和铝基两用快速全自动转换（无须手动操作转换）； 
●测试反应速度可保持每秒1至2次； 
●傻瓜式归零操作方式，只要测头接触过基体，悬空也可归零； 
●正负数显示测试值，归零是否到位一目了然，提高测试准确度； 
●增加温飘控制系统及高端芯片控制系统，具有较为良好的线性、稳定性以及重复性，在国       
  内处于行列； 
●除单点校准、两点校准和恢复出厂设置功能外，还增加了自助标定修复功能（即基本校准修正法，见说明书4.4）；当仪器测头因长期磨损导致测试值误差出正常范围时，用户可直接向仪器重新输入数据，修复仪器测头系统，恢复测量准确度，节约返厂时间及运输成本。 
●测试工件图： 
1）在狭小空间拐角处对管道表面油漆层和高空户外产品涂镀层进行测试 
    
2）对产品内壁及产品反面涂镀层进行测试 
   
  
  
3)测量铝基表面氧化膜及达克罗涂层镀层 
  手持式涂层测厚仪

全数字化声波探伤仪 声波探伤仪型号：TIME1101

产品概述 
TIME1101声波探伤仪是一款全新设计的、具有多处创新点的全数字化声波探伤仪，检测速度快、高、波形稳定。等效采样频率高达320MHz，微小缺陷的检出率高；声回波信号分析采用DSP处理技术，目标缺陷信号识别快，探伤波形显示采样平滑滤波技术，更适合粗晶金属等强背景噪声材料的检测。关键性能指标与同类产品相近或出。 
功能特点 
○峰值记忆功能 
○快速旋钮调节，操作便捷 
○A、B型显示方式 
○缺陷当量计算 
○自动增益调节 
○具有回波包络显示功能 
○探头自动校准功能 
○具有防水功能 
○EL高亮度图形点阵显示屏，无视角限制，不受温度阳光影响 
○更高的储存容量，存储1000幅A扫描图形及参数和100,000个厚度值 
○多达10个独立探伤通道 
○具有独立的双闸门设置和报警功能 
○大容量锂离子电池，无记忆性，连续工作时间可达8小时 
○探头角度和Ｋ值两种输入方式 
○可直接驱动C65/C66打印机 
○能够跟PC机通讯，有功能强大的Windows数据处理软件 
○重复发射率高达1KHZ 
○高样速率，射频波形细节尽现 
技术参数 
名称技术数据 
测量范围2.5mm～9000mm（钢纵波） 
工作频率0 MHz～15 MHz，连续可调 
增益调节110dB（0.2、0.5、1、2、6、12步距调节，0.0时锁定） 
垂直线性≤3% 
动态范围≥34dB 
水平线性≤0.2% 
波形显示正半波、负半波、全波和射频 
探伤灵敏度余量≥60dB(2.5MHz￠20/Z20-2) 
脉冲移位－20μs～＋3400μs 
探头延迟0μs～99.99μs，分辨率0.0125μs 
扫描分辨率0.1 mm（2.5 mm～99.9 mm）；1 mm（100 mm～9000 mm） 
声 速1000m/s～9999m/s 
输出阻尼50，150，400 
外型尺寸243 ×173×85（mm） 
重 量1500g(含电池)

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实验室硅酸根分析仪 台式中文硅酸根分析仪 型号：WS-806

WS-806型实验室硅酸根检测仪适用于样水中微量硅酸根元素的定量测定。 广泛的运用火力发电厂除盐水蒸汽、凝结水炉水及化工、制药等行业。 
中文显示，中文导引菜单，使操作为方便，强大的功能组提供了许多新颖实用的功能。 
WS-806型实验室硅酸根检测仪 功能特点： 
图形液晶，全中文显示 
·功能众多，菜单操作 
·内置实时时钟，为存储、标定 
·和记事等提供时间基准 
·内置大容量存储器，随时存储 
·自动测量/手动输入温度 
·特有的纯水，加氨纯水25℃折算 
·纯水自动温度补偿 ·微处理器智能化设计 ·可手动输入零点、斜率 
·没有可调器件、旋纽和波段开 
·关，更加稳定可靠。 
·外壳采用增强ABS 
·防水、防湿气侵蚀，坚固耐用。 
·线路板与表壳没有任何连线 
·选配打印机T-LAB通讯及数据处理软件 
·在微机上进行连续记录和后期处理 

WS-806型实验室硅酸根检测仪术参数： 
1.测量范围：0～200μg/L，0～20mg/L（相互转换） 
2.分辨度：0.1          基本误差：±2%F.S 
3.重复性误差：±2%F.S 
4.稳定性：±2%F.S/24h 
5.被测水样：0～60℃ 
6.时钟：±1分/月 
7.数据存储数量：3000点 
8.数据掉电连续保存时间：>5年 
9.工作条件：环境温度：0～60℃    相对湿度：<85% 
10.电源：220V±10% 50±1 Hz 
11.外形尺寸：310×210×100mm （长×宽×高）