天瑞光谱分析仪器是属于大型光学精密一起。以前我国主要依靠进口光谱分析仪，进口的光谱分析仪价格昂贵，耗费国家大量外汇。所以一机都在75年组织了光电式光谱分析仪会战，从此我国可以自己大量生产大型光谱分析仪。光谱分析仪器结构虽然很复杂，主要由下面四部分组成：光源、分光器（又称单色器）、接收器（又称探测器）、输出装置。为了更好的利用仪器和得到满意的测试结果，必须对仪器各主要部分的作用和原理有所了解。

光谱分析仪的优点

1.采样方式灵活，对于稀有和贵重金属的检测和分析可以节约取样带来的损耗。

2.测试速率高，可设定多通道瞬间多点采集，并通过计算器实时输出。

3.对于一些机械零件可以做到无损检测，而不破坏样品，便于进行无损检测。

4.分析速度较快，比较适用做炉前分析或现场分析，从而达到快速检测。

5.分析结果的准确性是建立在化学分析标样的基础上。

光谱分析仪的缺点

1.对于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到准确检测。

2.不是原始方法，不能作为仲裁分析方法，检测结果不能做为国家依据。

3.受各企业产品相对垄断的因素，购买和维护成本都比较高，性价比较低。

4.需要大量代表性样品进行化学分析建模，对于小批量样品检测显然不切实际。

5.模型需要不断更新，在仪器发生变化或者标准样品发生变化时，模型也要变化。

6.建模成本很高，测试成本也就比较大了，当然对于大量样品检测时，测试成本会下降。

7.易受光学系统参数等外部或内部因素影响，经常出现曲线非线性问题，对检测结果的准确度影响较大。

Thick 8000 镀层测厚仪

仪器概述

    Thick 8000 镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

技术指标

分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 
同时检测元素：最多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，最薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用先进的微孔准直技术，孔径达0.1mm，光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃

Thick800A

1、仪器概述

    镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标，关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800A镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器，配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果更加精准。

2、性能优势

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

3、技术指标

元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层 
可同时分析多达五层镀层
最薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg

铜镀镍件X射线荧光测试谱图

铜镀镍件测试值