X射线荧光光谱仪特点

X射线荧光光谱仪的特征是波长非常短，频率很高，其波长约为（20～0.06）×10-8厘米之间。因此X射线必定是由于原子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的。所以X射线光谱是原子中zui靠内层的电子跃迁时发出来的，而光学光谱则是外层的电子跃迁时发射出来的。X射线在电场磁场中不偏转。这说明X射线是不带电的粒子流，因此能产生干涉、衍射现象。 

X射线荧光光谱仪的X射线谱由连续谱和标识谱两部分组成 ，标识谱重叠在连续谱背景上，连续谱是由于高速电子受靶极阻挡而产生的 轫致辐射，其短波极限λ 0 由加速电压V决定：λ 0 = hc /( ev )为普朗克常数，e为电子电量，c为真空中的光速。标识谱是由一系列线状谱组成，它们是因靶元素内层电子的跃迁而产生，每种元素各有一套特定的标识谱，反映了原子壳层结构 。同步辐射源可产生高强度的连续谱X射线，现已成为重要的X射线源。

江苏天瑞仪器股份有限公司是生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列仪器是测合金元素成分检测仪,专门研发测试合金成分分析.测试过程校准，保证测量，内置多条曲线，可满足多种元素的分析需要。 X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行成分分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）