磁铁冷热冲击试验箱采用蓄冷方式，为待测产品静置冷、热交替冲击方式。冷热冲击试验设备验证方案广泛使用与电子组件测试、半导体、金属、化工、建材等行业。

    磁铁冷热冲击试验箱规格：

    高低温区温度范围：高温区部分：+80℃至+200℃ 低温区部分：-10℃至-55℃。

    温度测试范围：高 温：+60℃至+150℃。低 温：0℃至-40℃。

    控制：+(-)2℃。

    解析：0.01℃。

    结构：分为高温区、低温区、测试区。

    内部尺寸：50cm(w)×40cm(h)×40cm(d)

    外部尺寸：根椐实际设计定

    内外箱材质：sus#304耐热耐寒不锈钢板，光面板。

    保温材质：高密度玻璃棉及度pu发泡缘材料。

    高温区升温时间：自常温至150℃，约60分钟。

    低温区降温时间：自常温至 -40℃，约80分钟。

    冷热冲击试验设备验证方案测试区温度恢复时间：3-5分钟。

    电路控制系统：

    a.采用原装日制大型液晶lcd(320×240)英文文字与数据数据银幕显示交谈方式。

    b.可记忆100组程序(pin)×1000段(step)，而各组程序(pin)多可执行999回或者无限次返覆执行。

    c.微电脑全自动pid+ssr控制方式，既方便又稳定。

    d.微电脑智能型多功能控制，具有各组冷冻压缩机、电磁阀、加温heater、加温heater… 等全自动控制输出功能。

    e.各系统的主要组件配备有检知接口装置，当异常故障发生时，立即经由lcd文字显示故障状态及切断电源。

    f.具有预约开机时间、关机时间之设定功能，可由年、月、日、时、分来设定之。g.具有运转保养累积时间显示功能，可供机台运转时间及保养参考用。

    h.lcd背光灯开与关之时间，可由程序来规划之，以延长背光灯之使用年限。

    i.可选择单段控制或多段程序之多种划面，以增加其操作上之方便性。

    j.附时序控制接口relay×2组，可规划外部逻辑驱动组件输出(信号、机构、电源……等相关辅助控制)。

    k.附有rs-232(标准品)通信接口装置壹只。

    l.具有停电记忆装置及停电机台启动方之选择 break cold hot可任意规划之。

    m.温湿度数据设定完成后，或者运转执行中可叫出程序设定图形画面，以方便了解设定及执行之各种情况。

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