六寸八寸探针台probe电性测试

型号：   PW-600/PW-800

规格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y电动移动行程150mm（200mm）
chuck粗调升降8mm，微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6～8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域：6寸/8寸Wafer、IC测试之产品

型号：   PW-400                              
规格：
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm（选项）
搭配AEC实体显微镜
针座摆放个数2～4颗
适用领域：4寸Wafer，如晶圆厂、LED、学单位等

型号：   PW-600/PW-800

规格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y电动移动行程150mm（200mm）
chuck粗调升降8mm，微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6～8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域：6寸/8寸Wafer、IC测试之产品
 
 RF高频探针台

东、南、西、北测试臂
搭配美国GGB高频测试头
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探针材料：BeCu/Tungsten