实验室手动探针台半导体失效分析
价格:电议
地区:北京市
电 话:010-82825511
手 机:13488683602


型号:   PW-600/PW-800

规格:
chuck尺寸150mm(200mm)
X,Y电动移动行程150mm(200mm)
chuck粗调升降8mm,微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6~8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域:6寸/8寸Wafer、IC测试之产品
 
 RF高频探针台

      

东、南、西、北测试臂
搭配美国GGB高频测试头
DC~10/40/50/67GHZ (GSG,GS,SG)
Pitch 100~1500um
探针材料:BeCu/Tungsten