TEA采用的光干涉原理技术，可检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。

热膨胀系数分析仪技术

自主知识产权产品，拥有多项技术。

基于光干涉原理的技术，通过照射到样品上下表面产生的两束反射光发生干涉，得到光功率随温度的变化曲线，通过计算得到材料的热膨胀系数。

采用PID调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式，大温区连续、温度跟随、既定程序升温及保持控制。

非接触式检测，测试高。

具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力。

热膨胀系数分析仪技术参数

热膨胀系数分析仪样品要求

尺寸：长×宽5x5~20x20mm2，厚度2.0mm（含基底）以下为宜

适用于透光材料的热膨胀系数检测

具备光学反射双平面

检测样品的热膨胀量≥266nm

热膨胀系数分析仪测试原理

1.入射光　2.光束隔离器　3.投射光 4.待测样品　

　5.反射光　6.反射光 7.聚光镜　8.滤光片　9.光电传感器

光路原理图

　　激光器射出的光线经分光镜照射到样品上表面，产生反射光，同时投射光照射到下表面也产生一束反射光，两束反射光在光电探测器处发生干涉，反射光功率发生周期性变化，得到光功率随材料温度的变化曲线，通过计算得到热膨胀系数。