布鲁克Bruker(原veeco)大样品台比AFM—-Edge
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布鲁克Bruker(原veeco)大样品台比AFM-Edge

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Dimension Edge——,大样品台AFM的解决方案

 

Dimension? Edge? 原子力显微镜采用新技术, 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于水平。基于的Dimension Icon?平台, Dimension Edge系统的整体设计使其 具有低漂移、低噪音的特点, 大大了数据获取速度和性,使用这台的仪器,几分钟时间即可获得高质量、可发表的数据。这些检测性能的,并没有影响仪器的价格,低于您对如此原子力显微镜的支出预算。此外,视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计,适用于各个研究阶段和科研水平的用户。

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性价比的闭环Dimension系列AFM

 

的传感器设计既获得了闭环的,又具有 开环的噪音水平。

 

显著地降低噪音和漂移,在大样品台AFM上实现 了小样品台AFM的成像性能。

 

显微镜和电路的设计既了高成像性能,又使 得价格适中。

 

快速,,高分辨的测量结果

 

的可视化操作界面,整体采用流程式设计,快速简便的设定各步骤参数

 

5像素 的高分辨率相机和马达驱动可编程平台,提供快速样品导航和多点测量

 

从大范围扫描到分辨检测的无缝过渡 可在短时间内获得准确结果。

 

适用于任何样品上的任何应用的解决方案

 

开放式平台设计可适应各种实验和样品的需求。

 

新仪器的设计和软件利用了的Bruke  AFM扫描模式和检测技术,满足前沿的应用需求。

 

内置的信号路由模块,帮助研究者根据新的研究方向和实验需求,自定义检测模式。

 

 

的纳米级测量能力,适用于各研究水平

 

型模块化设计,不仪器成本的前提下,实现更高的测量性能。

 

新的8型软件,凝聚10几年AFM研发精华,常规扫描模式外,根据实验需求,配备各种备选模式。

 

完整的控制平台,既可直观导航,又可进行强大的编程控制。

 

DIMENSION系列AFM提供了优质的AFM性能

 

Dimension Edge原子力显微镜既具有卓越性能,保留了Dimension ICON系统的诸多技术,中等价位的价格 与仪器功能了的平衡。其中的技术是 Bruker性的闭环扫描,结合温度补偿位置传感器和模 块化的低噪音控制电路,这套针尖扫描部件把闭环噪音减 小到了单个化学键长度。为了限度的发挥这一优点,扫描器被固定在一个坚固的,具有漂移补偿的桥梁结构上。此桥梁结构基于FPGA的温度控制并快速稳定到低的漂移速率。因此,Dimension Edge原子力显微镜结合了高生产效率,高,大样品台的样品通用性,闭环操作 和以前在小样品台、开环仪器上才能获得的高分辨率图像等特点,能够获得任何样品的真实图像,实现性的实验成果。

 

AFM功能

 

Dimension Edge既包含了各种常规的扫描模式和Bruker技术,还提供了针对各种具体应用领域的解决方案,例如纳米级的电学测量,可控环境下的材料表征等。这些功能够在广泛应用中获得成像和单点谱线测量,例如从太阳能和半导体器件的表征和多相聚合物材料成像,到从单分子到全细胞的生命科学样品的原位成像和单个纳米颗粒的研究。

 

电学表征

Dimension Edge不是把一个AFM探针连接到低噪音电流放大器上,而是开发了Dark Lift模式,Dark Lift是在导电原子力数据把光电效应从样品的本征电导性中清晰分离的方法。它是基于布鲁克已申请的,应用磁力显微镜和静电力显微镜中 的抬起模式(Lift Mode)。系统利用这两种性能以在静电电势成像应用的优化测试。迄今为止,结合了Dark Lift模式的闭环(常损耗量)的扫描电容显微镜(SCM)依然是对掺杂浓度表征的的解决方案。然而,如果研究者想要以灵敏度来探测小电压的变化,也可很容易地把抬起模式 与表面电势显微镜结合起来。Dimension Edge系统通过双频的方法,能够为任何静电电势成像的应用Edge.jpg理想的解决方案。