OmniFluo “卓谱”系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成，吸收了我公司 15 年的光谱系统设计、制造经验，通过不同配件的选择，不可以实现荧光光谱测量，还能够实现功能的多样化，如 PL、拉曼、反射吸收、探测器定标等光谱测量，了传统荧光分光光度计光谱范围有限及拓展功能不足的问题。

OmniFluo “卓谱”系统采用“谱”Omni-λ系列光谱仪 / 单色仪、高灵敏度单通道或多通道探测器，采用单光子计数技术或锁相放大技术，大的了荧光探测的灵敏度，使得纯水拉曼信噪比 1000:1 以上的水平。

OmniFluo “卓谱”系统将 PL 和 PLE 两种荧光测试需求结合，采用模块化设计，可以根据需要进行系统架构的灵活调整，实现常温及低温下的荧光光谱、激发光谱测量。

组合式荧光光谱测量系统OmniFluo性能特点

■ 模块化的结构设计——各功能模块结合，根据需要进行选择，后续升级方便

■ 合理的空间布局——在满足功能需求的前提下尽可能占用更少的空间，且方便测量操作

■ 宽光谱范围*——200nm-2500nm

■ 的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性

■ 宽波段、高输出功率光源——150W、500W氙灯光源可选

■ 多种激光器波长可选*266nm/325nm/375nm/405nm/442nm/532nm/785nm/1064nm等

■ 量子产率测量功能可选**——扩展选项

■ 电致发光(EL)功能可选**——扩展选项

■ 温测量附件可选**——可提供≤10K的温测量

*需根据实际需要进行配置确定；

**选配项，请详细咨询。

组合式荧光光谱测量系统OmniFluo参数规格表 (*)

光致发光（荧光）光谱测量系统

光致发光 (photoluminescence) 即 PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如 325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如 GaN、 ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即 PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。