标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

镀银层测厚仪介绍

Thick800A高压开关镀银层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm

便携式镀层设备

镀银层测厚仪技术参数

测试元素范围原子序数为12～92【镁（Mg）到铀（U）】之间的元素均可测量

分析厚度范围0.01～50um（实际分析范围随元素种类和层数不同）

分析层数可达五层

分析时间5～30秒

曲线类型基本参数FP法和经验系数EC法

50KV/激发源 200uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源

探测器SDD半导体探测器

探测器分辨率可达125eV

准直器和滤光片直径4.0mm和2.0mm准直器，6种滤光片组合自动切换

视频系统500万像素的高清晰摄像头

仪器外形尺寸244mm（长）x 90mm（宽）x 330mm（高）

仪器重量1.7Kg

性重金属分析软件，采用智能一键测试和智能判断功能

数据传输数字多道技术，SPI数据传输，快速分析，高计数率；防水迷你USB，并且可以外接台式电脑。

仪器重量1.7Kg

操作环境湿度≤90%

智能三色预警

指示系统

镀银层测厚仪性能优势

微型光管、Fast-SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智

能分析模块四大技术的引入，使其具有台式相近的测试精

度。

采用超高主频及大内存，超大存储空间，可海量存储数据。全

新自主研发的数字多道技术，保证每秒有效采谱计数可达

500kcps

准直滤波系统，其组合达到极限12组，满足客户的不同条件下

的检测需求。

内置500万像素高清晰摄像头，随时观察样品测试位置，使测

量更加精准。