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图文详情
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产品属性
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天瑞X荧光镀层测厚仪的优点
测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求:
1.不破坏的测量下具高精密度。 2.极小的测定面积。 3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。 4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜。5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。
而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量。贵金属合金分析 黄金纯度分析 材料鉴定
镀层测厚仪_Thick800A
产品说明、技术参数及配置
仪器介绍
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高移动平台可定位测试点,重复定位小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是的镀层测厚仪生产企业, 产品打破了国外垄断局面,性价比,在行业内销量,分析仪器上市公司。公司生产镀层测厚仪,气相色谱质谱仪(GCMS),五金镀层测厚仪,x射线测厚仪,ROHS检测仪,手持式ROHS光谱仪,手持式合金分析仪,ROHS检测设备,电镀层测厚仪,五金镀层测量仪,天瑞ROHS仪,X射线镀层测厚仪。天瑞仪器成立于1992 年,以研究、生产、销售XRF荧光光谱仪起步,目前从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的高端分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务,是国内上市的分析仪器企业。
江苏天瑞仪器股份有限公司镀层测厚仪展厅
精密的三维移动平台
520(W)x 395(D)x150(H)mm
同时可以分析30种以上元素,五层镀层