交流阻断（或反偏）耐久性试验是在一定温度下，对半导体器件施加阻断（或反偏）电压，按照规定的时间，从而对器件进行质量检验和耐久性评估的一种主要试验方法。
        一般情况下，此项试验是对器件在结温（Tjm ℃）和规定的交流阻断电压或反向偏置电压的两应力组合下，进行规定时间的试验，并根据抽样理论和失效判定依据，确认是否通过， 同时获相关试验数据。
       该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、JEDEC标准试验要求。