TT230氧化膜测厚仪采用涡流法测量原理，是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

主要功能

　　可进行零点校准及二点校准。

可对测头进行基本校准。

设有五个统计量：平均值（MEAN）、值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。

具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。

自动关机功能。

删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。

操作过程有蜂鸣声提示。

有欠压指示功能。

有错误提示功能。

主要技术指标　

测量原理：涡流法

测量范围：1～1250μm

测量：±（3%H+1.5）μm（零点校准）

±[(1～3)%H+1.5] μm（二点校准）

标准配置 

TT230主机（含测头）　1台 

标准片　　　　　　　　5片

铝基体　　　　　　　　1块 

充电器                1个