XRF镀层测厚仪是x射线激发样品产生的荧光，通过分析荧光的强度来计算出金属电镀铬层厚度的测试设备。电镀银层测厚仪通过计算机自动操作，自动检测算出电镀镀银层厚度，操作方便。天瑞仪器是国际一流品牌，提供质量稳定性价比高的电镀铬层测厚仪thick800aXRF镀层测厚仪用于分析电镀锌层厚度的，电镀银层厚度，电镀铬层厚度，电镀锌层厚度，电镀镍层厚度，金属电镀镀银测厚仪比较好的品牌是天瑞仪器，国际三大主流品牌之一，产品质量稳定性仅次于德国菲希尔。天瑞仪器金属镀层测厚仪拥有德国的质量，国产的价格，值得了解。

XRF镀层测厚仪thick8000

 Thick 8000 镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

2、性能优势

精密的三维移动平台
卓越的样品观测系统
先进的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

3、技术指标

分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用先进的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃

铜镀镍测试图谱：

铜镀镍测试结果：

      XRF镀层测厚仪性能优势：

快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量要求。

方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上先进的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。

无损：测试前后，样品无任何形式的变化。

直观：实时谱图，可直观显示元素含量。

测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机  

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。