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图文详情
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产品属性
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奥林巴斯45MG超声测厚仪功能:
操作简便、坚固耐用、性能可靠
45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容,是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器,可用于几乎所有测厚应用。
使用双晶探头对腐蚀工件进行测量
使用单晶探头对工件进行测量
标准功能
45MG仪器在使用基本配置时,是一款易懂易学、操作简便的测厚仪,操作人员经过基本的培训,就可完成常用的测厚应用。不过,45MG仪器添加了可选软件选项和探头后,就会变成一款极为的测厚仪,可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外,大多数选项可以在购买仪器时分别购买,或在日后需要时购买。
与所有Olympus双晶探头兼容,可对内部腐蚀的金属的厚度进行测量
小值/值模式
两个报警模式
差值模式
时基B扫描
缩减率
增益调整(标准、高、低)
密码式仪器锁定
奥林巴斯45MG超声测厚仪技术参数:
测量参数:
测量功能:小值/值模式、两个报警模式、差值模式、B扫描、缩减率、可编程的锁定功能
双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的延迟到个回波之间的时间间隔。 |
自动回波到回波(可选) | 在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。 |
穿透涂层测量 (可选) | 利用单个底面回波,测量金属的实际厚度和涂层厚度(使用D7906-SM和D7906探头) |
单晶探头测量模式(可选) | 模式1:激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。 |
厚度范围 | 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定(要测量全的范围需要使用单晶选项) |
材料声速范围 | 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs) |
分辨率(可选择) | 低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) |
探头频率范围 | 标准:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(单晶选项):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB) |
一般规格
操作温度范围 | -10 °C~50 °C(14 °F~122 °F) |
键盘 | 密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈 |
机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳,机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 |
外型尺寸(宽 x 高 x 厚) | 总体尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
重量 | 430.9克 |
电源 | 3节AA电池/USB电源供应 |
电池工作时间 | 3节AA碱性电池:20到21小时 |
标准 | 设计符合EN15317标准 |
显示
彩色透反QVGA显示 | 液晶显示,显示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米 |
检波 | 全波、RF波、正半波、负半波(波形选项) |
输入/输出
USB | 2.0从接口 |
存储卡 | 容量:2 GB可插拔MicroSD存储卡 |
内置数据记录器(可选)
数据记录器 | 45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
容量 | 475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形 |
文件名称和ID编码 | 32位字符的文件名,20位字符的字母数字位码 |
文件结构 | 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构 |
| 机载总结了数据统计和小值/值 |
标准配置
1.45MG数字式超声测厚仪
2.AA碱性电池
3.2阶试块和耦合剂
4.USB线缆
5.用户手册,存于CD盘上
软件选项
45MG-SE (U):单晶选项,使用频率范围为2.25 MHz~30 MHz的单晶探头
45MG-HP (U):单晶高穿透选项,使用频率范围为0.5 MHz~30 MHz的单晶探头
45MG-EETC (U):回波到回波和穿透涂层
45MG-WF (U):波形选项
45MG-DL (U):内置数据记录器,包含GageView接口程序
选购附件
MICROSSD-ADP-2GB (U): 2 GB外置MicroSD存储卡
45MG-RPC (U): 带支架的橡胶保护套
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