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高石英晶振测试设备,晶振测试系统GDS-80
一、产品简介
高石英晶振测试设备,晶振测试系统GDS-80是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现智能化测量,符合IEC-444标准。高石英晶振测试设备,晶振测试系统GDS-80测量频率范围20KHz-100MHz,附RS-232接口进行数据通信。高石英晶振测试设备,晶振测试系统GDS-80特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。
高石英晶振测试设备,晶振测试系统GDS-80采用π型网络零相位法实现等测量。高石英晶振测试设备,晶振测试系统GDS-80测量高,速度快;具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量,可保存5个不同晶振频率和负载电容参数,负载电容在2-20P范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。
二、主要技术指标
1. 中心频率范围: 20KHz-100MHz任意设定
2. 负载电容:4-20P 任意设定
3. 负载谐振电阻:1Ω-300Ω 1K-300K
4. PPm范围测量:±300ppm
5. PPm测量:< 0.5ppm
6. 时基频率:16.384M
7. 晶振稳定性:2×10-8 /日
8. 体积:80×235×305(mm)
9. 保修期:三年
三、特点
1. 阻抗值、ppm同时显示
2. 无需人工校对,直接测试多种参数
3. 新技术,符合IEC-444标准,满足国人需求,可替代进口设备
4. LCD显示
5. PPm超标提示功能
四、仪器配置
1. 高石英晶振测试设备,晶振测试系统GDS-80 1台
2. 电源线 1根
3. 保修卡一张
4. 说明书 1份
制造商
全新
深圳
20KHz-100MHz
4-20P 任意设定
1Ω-300Ω 1K-300K
±300ppm
< 0.5ppm
16.384M
2×10-8 /日
三年