上海恩迪检测控制技术有限公司
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diondo d1
采用微纳米焦点射线源和高分辨率探测器
可以满足中小型样品的快速、高分辨率扫描,实现对样品的无损检测、尺寸测量、结构分析等。
关键特征:
● 高4轴机械系统
● 190kV/240kV 高功率反射型微米焦点
● 可选高分辨率穿透型纳米焦点
● JIMA 卡空间分辨率测试可达0.5μm
● 检测范围:Φ500mm x H450mm
● 支持多种平板探测器,探元大小可选
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