Werth FlatScope平面零件光学扫描仪
价格:电议
地区:江苏省 苏州市
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Werth FlatScope平面零件光学扫描仪适于工厂高速栅格二维扫描测量平面类零件,如线路板、手机外壳、模板等。封闭式结构,平面光源位于顶部机盖,CCD变焦系统位于机器底部,快速聚焦于大玻璃工作台表面,可同时测量位于工作台表面各种不同类型零件。


   瑞士丹青FlatScope平面零件底面快速光学扫描仪,适于工厂高速栅格二维扫描测量平面类零件,如线路板、手机外壳、模板等。封闭式结构,大平面光源位于顶部机盖,CCD变焦系统位于机器底部,快速聚焦于大玻璃工作台表面。因而可同时测量位于工作台表面各种不同类型零件的轮廓尺寸。



作为测量仪器,该扫描仪是当今世界上测量二维工件的二维扫描仪).






主要特点:
高速的矩阵式扫描系统,适用于生产现场的二维测量
工业图像处理系统,扫描规则的几何元素及自由轮廓
被测工件可任意位置放置
模块化的测量软件
利用投射光和透射光进行工件扫描
快捷方便的WinWerth评估软件
WinWerth软件CAD在线和公差拟合测量
平面光源
采用高标准双边标定
 

 

技术参数:
测量范围(玻璃工作台?尺寸):
X = 400/650mm
Y = 200/400/600mm
工件高度:Z = 100mm
光栅尺分辨率:0.1μm

测量机允许误差:

变焦:
1)E1: (2.5+L/120) μm
 E2: (2.9+L/100) μm

固定镜头 0.4x:
2)E1: (4.9+L/100) μm
 E2: (4.9+L/75) μm

固定镜头 0.2x:
2)E1: (9+L/100) μm
 E2: (9+L/75) μm

1)20℃±2o Δ=1o/h  5X镜头  2)20℃±2度 Δ=1度/h
依据标准 ISO 10360 和 VDI/VDE 2617

 



企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

德国

产地:

英国ABERLINK

精度:

2.5um

分辨率:

0.0005mm