一、应用领域 EXF-180E是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪；对铅（Pb）、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)、溴(Br)、氯(Cl）)等元素有很好的检测下限以及。可满足RoHS/WEEE/EN71标准/ELV指令相关管控要求。精心设计的开放性工作曲线功能，适用于多材料的工厂制程控制。 适用于：五金、接插件、电子，电气，连接器，电镀，PCB，塑料，皮革，鞋材等来料的ROHS分析，八大属分析。 二、产品特点(测试对像：粉未、固体、液体) 1X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、、卫生等各个领域，是在RoHS检测领域应用得多也广泛。 大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。
优缺点：
优点: a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。是在软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。 c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。 d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。 e) 分析精密度高。 f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。 缺点： a）难于作分析，故定量分析需要标样。 b）对轻元素的灵敏度要低一些。 c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。 三、技术指标 输入电压：AC 220V±5% | 测试对像： | 粉未、固体、液体 | 高压发生器： | 输入电压 | 24VDC±10% | 输出电压 | 0-50kV | 输出电流 | 0-1.0mA | 输出 | 0.01% | X射线管： | X射线管靶材 | W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选 | X射线管窗口 | Be窗 | 电气参数 | 50W、4-50kV，0-1.0mA | 冷确方式 | 硅脂冷却 | 使用寿命 | 大于15000小时 | 探测器： | 检测范围 | 硫（S）-铀（U） | 分辨率 | 139±5eV | 探测窗口 | 铍窗，窗口面积： 25mm2 | 谱处理系统 | 处理器类型 | 全数字化DP5 | 谱通道数 | 2048通道 | 计数率 | 1000-8000cps | 光路系统和样品观测： | 准直器系统 | 5个准直器,小0.5mm | 滤光器 | 4种滤光器可供选择 | 样品观察系统 | 500万象素高清CCD摄像头 | 仪器外观及样品室尺寸 | 外部尺寸（mm） | （长×宽×高）：650 mm ×460 mm×380mm | 样品腔试验样品尺寸 | 480 mm ×285 mm×120mm | 样品台承载重量 | ≤10kg | 样品台控制方式 | 固定样品台 | 元素检出限 | Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Pb≤2ppm Cl≤15ppm | 计算机和软件 | 控制计算机 | 联想品牌机 2G内存 500G硬盘容量 | 显示器 | 联想19寸LCD显示器 | 操作系统 | win7简体中文版 | 结果 | Excel格式 | 软件 | ROHS分析,卤素分析 | 软件类型 | FP基本参数法，经验系数法、经网络法、基本参数法。 | 软件语言 | 简体中文、英文、其它 | 谱显示 | 峰定性，KLM标记，谱重迭比较 | 重量和尺寸： | 设备主体尺寸（mm） | 650(W)x460(D)x380 (H)mm | 主体重量 | 约45kg | 使用环境： | 工作环境 | 温度：10-30度，湿度：40%-80%RH | 电源系统 | 单相220V±10%，工作电压在充许范围内 | 其它 | 1.不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置 2.减少振动 3.粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体 4.日光不能直射 5.作为地震的对策，要考虑装置的固定 |
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