天瑞仪器EDX3600H X荧光光谱仪
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天瑞仪器公司是生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇的合金分析技术,配备合金测试效果的智能真空系统,利用低能光管配合真空测试,可以有效的降低干扰,提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。

EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。 
具有测试高、测试速度快、测试简单等特点。 
同时具有合金测试、合号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。 
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。

性能特点:

高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平 
针对合金的测试而开发的专用配件 
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比 
天瑞仪器产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上 
低能X射线激发待测元素,对Pb、S等微含量元素激发效果好 
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围 
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性; 
高信噪比的电子线路单元 
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐 
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制; 
内置高清晰摄像头 
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

标准配置:

合金测试高效超薄窗X光管 
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
信噪比增强器 SNE
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
内置高清晰摄像头 
自动切换型准直器和滤光片 
自动稳谱装置 
三重安全保护模式 
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回归程序 
整体钢架结构,力度可靠的保证 
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸:660mm×510mm×350mm 
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg

技术指标:

测量时间:60秒-200秒 

测量元素范围:从钠(Na)到铀(U) 

管压:5KV-50KV 
管流:50uA-1000uA元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同) 
同时分析元素:性可测几十种元素 
能量分辨率为:(140±5)eV 

应用领域:

检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品