一、前言

随着人类社会的发展，矿物原料应用范围日益扩大，人类对矿产的需求量也不断增加，因此，需要限度地提高矿产资源的利用率和金属循环使用率。由于贵金属的化学稳定性很高，为它们的再生回收利用提供了条件，加之其本身稀贵，再生回收有利可图，也催生了许许多多的贵金属回收企业。

如何在矿物原料、合金、电子元件中快速地提取出各种贵金属？我们认为回收企业需要配备一些的贵金属检测仪器。西凡科技推出的X荧光光谱贵金属检测仪，可对各种可回收材料进行准确的定量分析。

二、解决方案

的贵金属无损检测方法

在贵金属检测领域，传统的分析方法如试金石法、灰吹法、火试金法等都属于破坏性检测，具有消耗性和危险性，且样品的制备过程耗时更长。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟，可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测可以达到小数点后四位数，是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡科技生产的贵金属检测仪使用的就是X射线荧光光谱法这一先进的检测技术。

X射线荧光光谱法（XRF）的工作原理是利用X射线激发被测物体表面,使得其表面原子发生能级跃迁,利用探测器接收到X射线,然后通过能谱图对比分析出元素成份。

X荧光光谱仪的工作原理图

仪器推荐：贵金属检测仪EXF9600

贵金属检测仪EXF9600是西凡科技根据多年的贵金属检测技术和经验，自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一，是一款配置的全元素高端检测仪。它配备了美国进口的Si-PIN探测器，并集成工控主板系统等十多项自主研发产品，符合新国标GB18043-2013，可对各种贵金属元素进行准确检测。

贵金属检测仪EXF9600

性能特点

无损：无损检测，不需要任何耗材

精准：美国进口Si-PIN探测器，对所有元素均能精准检测

便捷：集成工业计算机，双触摸屏显示设计，操作流畅便捷

快速：3秒内可对样品定性识别，60秒内可得出测试结果

直观：高清晰图形即时显示，检测结果直观明了

安全：加装防辐射装置，主动保护操作人员安全

技术参数

设备原理：X荧光能量色散

元素分析：全元素

检出限：100ppm（基体效应）

测量：±10PPM～0.1%

扩展不确定度：≤0.19%

镀层测量：镀层厚度范围<30um

X射线源：Mo靶的X射线光管 风冷（无辐射）

探测器：Si-PIN探测器(美国进口)

分辨率：145Kev±5

摄像头：高清晰摄像定位系统

软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算

高压器：0～50Kv(进口)

温度：-11～46℃

电压：100～127V或220～240V，50/60Hz

功率：144W

主体结构：高强度金属支架+工程塑料外壳

重量：33公斤

尺寸：670*400*330mm

标准配置

主动式射线保护

高压过压保护

光管过热保护

全局故障诊断

升降压预启动

扩展屏(3.2/4.3)

扩展线材及辅助支架

产品介绍

贵金属检测仪EXF9600结构示意图

航空设计，高端大气

符合人体工程学的测试室，且具备防辐射功能，操作便捷又安全

配备高清摄像定位系统，方便快速准确放置样品

简单操作，一步到位，轻松选择对应的行业应用方案

功能齐全的测试软件，友好的操作界面，让测试工作轻松完成

探测器快速精准分析样品，3秒内就可以对样品进行定性识别，60秒内即可得出测试结果

测试结果直观易懂，准确显示样品中所含元素及各元素含量

仪器获得ISO9001、CE、FCC、RoHS等权威

仪器荣获“全国质量信得过产品”和“全国质量检验稳定合格产品”证书

选择贵金属检测仪EXF9600的三大理由：

1、无损检测

贵金属的稀缺与宝贵，让灰吹法等传统的破坏性检测方法越来越不适用，市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法，而X射线荧光光谱法无非是的贵金属无损检测方法。

2、提升生产力

传统的检测技术，既耗时又耗人力，而X荧光光谱贵金属检测仪可以很大程度上解放劳动力，且检测速度快、高，这对提高企业的生产力有很大帮助，从而带来更多的经济效益。

3、提升市场竞争力

X荧光光谱贵金属检测仪不但可以帮助废旧金属回收企业提升劳动生产力，也可以帮助该企业在行业里保持的竞争优势。

三、我们的服务

1、售前咨询：关注客户应用需求，提供合理的解决方案，可根据客户需要提供专属定制机型。

2、操作培训：为客户提供完整的产品操作手册，并通过线上或者上门的方式为客户提供安装指导和操作培训。

3、客户回访：定期回访客户，听取客户的建议，帮助客户解决实际操作过程中遇到的问题。

4、产品保修：所有产品均实行国家三包政策，提供备用机、仪器返厂、工程上门等灵活的售后服务。

5、升级服务：终身为客户提供的软件升级服务。