CB-100

亚微米电路/射频测试针座

特点：

亚微米工艺集成电路电路测试

可以配合同轴/三轴探针夹具使用

夹具可以30度范围倾仰

可以使用钨探

可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座

可以配合使用校准片和校准软件

探头接口和线缆45度连接，无需 L 型转接头

探头可以拆卸维修

带射频测试线固定装置

规格：

X-Y-Z移动行程：12 x 12x 12mm

移动:0.7 微米

丝杠：100 Thread / Inch

射频测试能力：直流到 40GHz ~ 120GHz

固定方式：磁力翻转，带磁性开关

移动方式：线性移动，无后座力移动

尺寸:90长 x 130宽 x 90mm高

重量:700 克

附件：

三轴探针夹具 同轴探针夹具 磁力底座 磁力翻转底座 真空底座

电动针座升级 射频探头 光纤探头 低电流/电容点测配件 高压配件

如需了解更多详细参数，请联系：

 肖生

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探针台类产品，接收客户定制。