光学轮廓仪
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产品介绍:光学轮廓仪是利用白光干涉原理测量样品表面光学轮廓等的测量系统,布鲁克(Bruker)光学轮廓仪是表面测量和检测技术的,服务于科研和生产领域。光学轮廓仪是利用白光干涉原理测量样品表面光学轮廓等的测量系统,Z轴分辨率可以达到0.1nm,光学轮廓仪用来测量表面形貌,对于表面形貌分辨率要求较高的用户可以选择。bruker新一代光学轮廓仪白光干涉仪ContourGT系列测量速度快,且噪声低,其光学轮廓仪白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,是历年来来先进的3D光学轮廓仪系统。该光学轮廓仪系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界的测量
光学轮廓仪应用:
对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据储行业等,提供全方位非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精准数据