光学轮廓仪
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产品介绍:光学轮廓仪是利用白光干涉原理测量样品表面光学轮廓等的测量系统,布鲁克(Bruker)光学轮廓仪是表面测量和检测技术的,服务于科研和生产领域。光学轮廓仪是利用白光干涉原理测量样品表面光学轮廓等的测量系统,Z轴分辨率可以达到0.1nm,光学轮廓仪用来测量表面形貌,对于表面形貌分辨率要求较高的用户可以选择。bruker新一代光学轮廓仪白光干涉仪ContourGT系列测量速度快,且噪声低,其光学轮廓仪白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,是历年来来先进的3D光学轮廓仪系统。该光学轮廓仪系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界的测量

光学轮廓仪应用:

对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据储行业等,提供全方位非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精准数据


光学轮廓仪特征:
业界的垂直分辨率,强大的测量性能;
0.5~200倍的放大倍率;
任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程;

光学轮廓仪测量硬件的独特设计,增强生产环境中的可靠性和重复性;较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力的自动校准能力;

多核处理器下运行的Vision64软件,大大提高三维表面测量和分析速度数据处理速度提高几十倍;分析速度提高十倍;

无以伦比的大量数据无缝拼接能力

光学轮廓仪高度直观的用户界面,拥有业界强的实用性,操作简便和分析功能强大优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程;独特的可视化操作工具;可自行设置数据输出的界面;

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