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图文详情
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产品属性
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详细介绍
QY-P-150平面干涉仪 :专为光学车间现场使用设计,标准测试口径Φ150mm。主要用途:平面类光学元件(包括玻璃、金属、陶瓷等)表面面形、光学平行度和材料均匀性的测试。仪器规格参数表 ◇150mm产品型号 QY-P-150 类型 菲索型 测试口径 标准镜面形 λ/20 标准镜材料 熔石英(康宁7980) 光源 半导体激光(635nm) 光路切换 对准(十字叉丝)与测试(干涉场)模式电控切换 显示方式 计算机或独立监视器实时显示 供选配件 密封罩、衰减过滤片 仪器尺寸(长X宽X高) 380X300X1000mm 仪器重量 80KG 电源 AC220V 50Hz (附注:更大口径平面干涉仪可依据客户需求定制)
仪器特点
高:标准镜高,且材料经过精密退火处理,稳定可靠; 调整方便:可通过切换开关选择对准与干涉场两种显示模式,方便调整; 条纹真实:可调节共轭成像位置,得到清晰、准确、真实的干涉条纹; 性能优良:仪器具备良好的隔振性能,适合光学加工现场使用; 配件丰富:选配简易密封罩,可将测试腔与外界气流隔离,降低测试过程中气流扰动,提高判断的准确性 |
仪器操作流程
仪器初始化:开机后稳定15分钟,使激光器模式稳定;将仪器右侧的转换开关切换至“对准调整”显示模式,确保标准镜反射光点位于十字叉丝中央。 光路粗调:将待测元件放置于载物台上,将转换开关切换至“对准调整”显示模式,调整载物台的两维角度调节旋钮,使待测面反射光点与标准镜反射光点在十字叉丝中心重合。 光路精调:将转换开关切换至“干涉图”显示模式,此时监视器上已经可以显示出密集的干涉条纹,微调标准镜调整架的两维角度调节旋钮,将视场内的干涉条纹调整至3~5根。 条纹判读:依据GB 2831-81(光学零件的面形偏差检验方法),并结合我们为客户特别制作的“干涉图与波像差对比图”(见附录),进行条纹判读。 3.2、特殊操作 干涉图清晰度调节:通过调整标准镜旁边的“共轭调节旋钮”,使干涉图清晰的显示在监视器上。仪器在出厂之前已经校正到成像位置,一般情况下不需要进行重新调整。 干涉图对比度调节:当待测表面镀高反膜时,干涉条纹对比度会较差,此时推荐选配衰减过滤片,将其插入待测元件与标准镜之间衰减光强,可获得良好的条纹对比度。 |
乾曜光学
制造商
全新
上海
Φ150mm
λ/20
熔石英(康宁7980)
密封罩、衰减过滤片