供应阻抗分析仪HP4191A  含Agilent/HP 16092A夹具

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HP4284A精密LCR测试仪  20MHZ-1MHZ
HP4285A精密LCR测试仪  75KHZ-30MHZ
HP4286A射频LCR测试仪  1MHZ-1GHZ
HP4287A射频LCR测试仪  1MHZ-3GHZ
HP4192A低频阻抗测试仪 5HZ-13MHZ
HP4194A阻抗测试仪  100HZ-40MHZ 

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  HP4191A：
测试材料的阻抗Z，导纳Y，电感L，电阻R,介电损耗D ,品质因数
射频阻抗计量器具检定系统
　　Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments 　　JJG 2011-87
　　代替：高频阻抗量值传递系统 
射频阻抗计量器具检定系统
　　本检定系统适用于射（高）频集总参数阻抗计量器具（即检测20kHz-1GHz频段的R，L，C元件和材料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件），规定了射频（习惯上也称高频）集总参数阻抗量的量值溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。
　　一、计量基准器具
　　1、高频集总参数阻抗的国家计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻抗量值（包括电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率）的计量设备和量具。
　　2、射（高）频集总参数阻抗计量基准器具包括：
　 　2.1空气介质同轴线阻抗基准，其阻抗量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用以校准按反射系数测量原理设计的高频阻抗精密测量装置。空气 介质同轴线也是微波阻抗国家基准，本检定系统移用它，有利于射（高）频、微波阻抗量值的统一。在（1-1000）MHz频段，其技术指标为：
　　　　反射系数模值｜г｜：1.000±0.002；　　　　相角：±180°±0.5°。
　　2.2高频阻高频阻抗精密测量装置，它是利用从美国引进的HP4191A高频阻抗分析仪，经过准确度论证分析，保证高频集总参数阻抗量的以下计量工作性能：
　　　　频率：（1-1000）MHz
　　　　反射系数模值｜г｜：1.000±(0.003-0.007)
　　　　相角θ：±180°±0.5°；
　　　　阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）%
　　　　电容C：10pF-100nF±(0.2-10)%;
　　　　电感L：10nH-100μH±（0.2-10）%
　　　　损耗：tgδ（D）0.001-0.5±<(0.002-0.05)
　　二、高频集总参数阻抗标准
　　3、集总参数阻抗标准包括：
　　3.1高频阻抗标准件50Ω，0Ω，0S。它们由国家基准通过直接比对法传递量值，技术特性如下：
　　　　50Ω：｜г｜≤0.0025；　　　　0Ω：残余阻抗小于2mΩ；　　　　0S：边缘电容值0.080pF。
　　这些标准件用以校准按电压电流比原理设计的高频阻抗分析仪、高频LCR表等通用高频阻抗测量仪器（校准中还需使用直流以和低频阻抗标准伯）。并由50Ω阻抗件组成模拟损耗件校准Q值、tgδ值等标准设备。
　　3.2高频、低频阻抗分析仪。这些是市售商品高准确度阻抗测量仪器，也用作计量标准设备，用以定标低准确度的阻抗标准量具。其技术指标为：
　　　　频率：20kHz-1000MHz；
　　　　阻抗｜Z｜：1Ω-10kΩ±（1-20%）；
　　　　电容C：10pF-100nF±(0.5-20)%；
　　　　电感L：10nH-1.00μH±（0.5-20）%

 
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