上海大栩祥国产原子力显微镜（一）

FM-Nanoview 6800AFM

简介：原子力显微镜应用：其应用范围十分广泛，利用原子力显微镜可以轻松得到样品的表面观察、尺寸测定、表面粗糙度、表面颗粒度分析、表面电势梯度和电荷分布、表面磁畴、生物细胞的表面结构等。 

    可测样品有：薄膜、纳米陶瓷、石墨烯、复合材料、纳米复合材料、玻璃、硅片、共聚物、电池材料、半导体材料、纳米纤维、蛋白质、纳米粉体等。

一、主要功能特点

     硬件系统

1、光机电一体化设计，外形结构简单；

2、扫描探头和样品台集成一体，干扰能力强；

3、精密激光检测及探针定位装置，光斑调节简单，操作方便；

4、采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描；

5、伺服马达手动或自动脉冲控制，驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域定位；

6、高大范围的样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域；

7、高大范围的压电陶瓷扫描器，根据不同和扫描范围要求选择；

8、带光学定位的CCD观测系统，实时观测与定位探针扫描样品区域；

9、采用伺服马达控制CCD自动对焦功能；

10、模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护；

11、集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用。

12、带温度显示。

    软件系统

1、可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像；

2、具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式；

3、可自由选择图像采样点为256×256或512×512；

4、多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图；

5、多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS（f-RMS）、RMS-间隙（RMS-Z）测量功能；

6、可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域；

7、可任意选择样品起始扫描角度；

8、激光光斑检测系统的实时调整功能；

9、针尖共振峰自动和手动搜索功能；

10、可任意定义扫描图像的色板功能；

11、支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能；

12、支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正；

13、支持样品图片离线分析与处理功能。

二、主要技术指标

1、工作模式：接触、轻敲、可扩展相位、摩擦力、磁力或静电力

2、样品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm

3、扫描范围：横向50um，纵向5um

4、扫描分辨率：横向0.2nm，纵向0.05nm

5、扫描速率：0.6Hz~4.34Hz

6、扫描角度：任意

7、样品移动范围：0～50mm

8、马达趋近脉冲宽度：10±2ms

9、光学放大倍数：10X

10、光学分辨率：1um

11、图像采样点：256×256，512×512

12、扫描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A

13、数据采样：14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样

14、反馈方式：DSP数字反馈

15、反馈采样速率：64.0KHz

16、计算机接口：U2.0

17、运行环境：运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统

原子力显微镜（二）

FM-Nanoview 1000AFM

   简介：原子力显微镜应用：其应用范围十分广泛，利用原子力显微镜可以轻松得到样品的表面观察、尺寸测定、表面粗糙度、表面颗粒度分析、表面电势梯度和电荷分布、表面磁畴、生物细胞的表面结构等。 

    可测样品有：薄膜、纳米陶瓷、石墨烯、复合材料、纳米复合材料、玻璃、硅片、共聚物、电池材料、半导体材料、纳米纤维、蛋白质、纳米粉体等。

一． 主要功能特点

硬件系统

1、主机与控制箱分开，外形结构简单；

2、扫描探头和样品台集成一体，干扰能力强；

3、精密激光定位装置，使用时无需调节光斑位置；

4、采用精密探针定位模块，更换探针简单方便；

5、采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描；

6、伺服马达手动或自动脉冲控制，驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域定位；

7、高大范围的样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域；

8、高大范围的压电陶瓷扫描器，根据不同和扫描范围要求选择；

9、带光学定位的CCD观测系统，实时观测与定位探针扫描样品区域；

10、模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护；

11、集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用；

12、弹簧悬挂式震方式，简单实用，干扰能力强。

13、带温控、湿控功能

软件系统

13、可自由选择图像采样点为256×256或512×512；

14、多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图；

15、可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域；

16、可任意选择样品起始扫描角度；

17、激光光斑检测系统的实时调整功能；

18、可任意定义扫描图像的色板功能；

19、支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能；

20、支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正；

21、支持样品图片离线分析与处理功能。

二． 主要技术指标

22、工作模式：接触、轻敲，可扩展相位、摩擦力、磁力或静电力

23、样品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm

24、扫描范围：横向20um，纵向2um

25、扫描分辨率：横向0.2nm，纵向0.05nm

26、扫描速率：0.6Hz~4.34Hz

27、扫描角度：任意

28、样品移动范围：0～20mm

29、马达趋近脉冲宽度：10±2ms

30、光学放大倍数： 4X

31、光学分辨率：2.5um

32、图像采样点：256×256，512×512

33、扫描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A

34、数据采样：14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样

35、反馈方式：DSP数字反馈

36、反馈采样速率：64.0KHz

37、计算机接口：U2.0

38、运行环境：运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统