设备介绍

EDX 3600KX射线光谱仪的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔，产品通过了江苏省计量科学研究院的检测，并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定，技术达到国际先进水平。

X射线光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。

硬件配置

自动切换型准直器和滤光片

真空腔体

自动稳谱装置

铍窗电制冷SDD探测器

自旋式样品腔

高效超薄窗X光管

超近光路增强系统

可自动开启的测试盖

先进的数字多道技术

多变量非线性回归程序

相互独立的基体效应校正模型

软件优势

采用公司新的能谱EDXRF软件，先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，操作简易，对操作人员限制小的特点。

具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，应用面更加广泛。

技术参数

型号：EDX3600K

X射线源：50KV、1mA

分析方法：能量色散X荧光分析方法

测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量

检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素

检测时间：10秒以上

操作环境湿度：≤90%

操作环境温度：15℃～30℃

检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末

探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器至125eV

激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择

摄像头：高清摄像头

测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下，大气、氦气均可以

准直器和滤光片：四组准直器（7、5、3、1mm），6种滤光片组合自动切换

自旋装置：可调速的自旋装置

检出限：对样品中的大多数元素来说，检出限达5～500ppm

真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa

数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率

测试台：360°电动旋转式

保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成

样品放置：独特的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动

数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps

应用领域

X射线光谱仪专为粉未冶炼行业研发的一款高端设备，主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。

同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。

X射线光谱仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X射线光谱仪技术为基础，结合国外相关新的技术发展成果，研制出具有自主知识产权的EDX 3600K型X射线光谱仪。