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图文详情
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产品属性
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仪器介绍
CMI900荧光X射线镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,快速无损测量,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
适用范围
用于电子元器件,半导体,PCB,FPC,LED支架,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器,端子,卫浴洁具,首饰饰品……多个行业表面镀层厚度的测量;
测量镀层,金属涂层,薄膜的厚度或液体(镀液的成分分析)组成。
主要特点
测量范围宽,可检测元素范围:Ti22–U92;
可同时测定5层/15种元素/共存元素较正;
高、稳定性好;
强大的数据统计、处理功能;
NIST的标准片;
服务及支持。
主要规格 规格描述 X射线激发系统 垂直下照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA) 装备有安全防射线光闸 二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器系统 单准直器组件 多准直器自动控制组件:多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选: -圆形,如4、6、 8、 12、13、20 mil等 即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil等 即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器) 在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圆形12mil>准直器) 样品室 开槽式样品室 样品台尺寸 610mm x 610mm XY轴移动范围 标准:152.4 x 177.8mm<程控> Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ轴控制方式 多种控制方式任选: XYZ三轴程序控制; XY轴手动控制和Z轴程序控制; XYZ三轴手动控制 样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。 50倍和100倍观察系统任选。 激光自动对焦功能 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 计算机系统配置 IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机 分析应用软件 操作系统:Windows XP中文平台 分析软件包:SmartLink FP软件包 测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。 基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品; 样品种类:镀层; 可检测元素范围:Ti22 – U92; 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正; 贵金属检测,如Au karat评价; 材料和合金元素分析; 材料鉴别和分类检测; 多达4个样品的光谱同时显示和比较; 元素光谱定性分析。 调整和校正功能 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移 测量自动化功能 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot” 多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式 测量位置预览功能 激光对焦和自动对焦功能 样品台程控功能 设定测量点 连续多点测量 测量位置预览(图表显示) 统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 任选软件:统计编辑器允许用户自定义多媒体书 数据分组、X-bar/R图表、直方图 数据库存储功能 系统安全监测功能 Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器 |
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