X射线镀层膜厚仪产品介绍

X射线镀层膜厚仪是测试金属镀层厚度的无损检测仪器，应用先进的三维测试平台，多点测试，对微小的产品进行准确的分析，天瑞仪器THICK8000X射线镀层膜厚仪打破了国外垄断的局面，成为国内独树一帜的品牌企业。

技术指标

 X射线激发源：5OKV/1000μA-钨靶X光管及高压电源
探测器及分辨率：SDD探测器，分辨率140±5eV
分析元素范围：原子序数16（S）～92（U）
分析元素及层数：可同时分析多达24种元素及5层镀层
分析厚度范围：检测覆盖层厚度一般在50μm以内
检出限：镀层金属元素厚度薄可达0.005μm
定位：0.001mm
测量时间：10s及以上
样品平台移动范围：120mm×120mm
样品腔升降平台移动高度：0～150mm
工作环境要求
工作电源：交流220±5V
周围不能有强电磁干扰
环境温度要求：15℃～30℃
环境相对湿度：<70%

性能优势

1.精密的三维移动平台

2.卓越的样品观测系统

3.先进的图像识别

4.轻松实现深槽样品的检测

5.四种微孔聚焦准直器，自动切换

6.双重保护措施，实现无缝防撞

7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试

全自动智能控制方式，一键式操作!

开机自动自检、复位；

开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样；

关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦；

X射线镀层膜厚仪售后服务

技术服务的响应期限：提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。

X射线镀层膜厚仪部分产品

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