美国Bruker(前Digital Instrument 和 Veeco)扫描探针显微镜

美国Bruker公司(前美国Veeco公司)是世界原子力显微镜，轮廓仪，台阶仪生产厂家，布鲁克第八代多功能扫描探针显微镜是世界上应用广泛的扫描探针显微镜（SPM），已经在成功安装使用了近万套。


顾客包括半导体、化合物半导体、数据储存，与多重领域的研究机构，在新材料尤其日前比较热门的石墨烯研究中更是有的优势。Bruker为了维持对高科技产品成长的地位，持续推出新产品，期望为顾客提供长期的产品优势，提升生产良率、增加生产力、提高品质及降低使用成本。

Dimension FastScan? 原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension? Icon?超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

布鲁克第八代多功能扫描探针显微镜主要特点：

1. 世界上的分辨率
2. 出众的扫描能力
3. 优异的可操作性
4. 非凡的灵活性与功能性
5. 无限的应用扩展性Multimode

可以实现全面的SPM表面表征技术，
?轻敲模式(Tapping Mode AFM)
?接触模式(Contact Mode AFM)
?自动成像模式(ScanAsyst)
?相位成像模式(Phase Imaging)
?横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM)
?磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM)
?扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
? 力调制(Force Modulation)
? 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM)
? 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
? 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy)
? 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
? 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)
? 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
? 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy)
?隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA)
? 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM)
? 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
? 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
? 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode)

 

Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨率，不增加操作复杂性，不影响仪器使用成本的前提下，帮助用户实现了利用 Dimension快速扫描系统，即快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度 > 125Hz， 还是在大气下或者溶液中1秒获得一张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。