芯片电路老化测试夹具
价格:电议
地区:江苏省 扬州市
电 话:0514-87881291

芯片电路老化测试夹具

该系列夹具供贴片封装的CMOS、PMOS集成电路的老化、测试、筛选作连结之用(间距1.27mm)

产品型号及规格;

GLB-14J GLB-16J GLB-18J  GLB2-18J  

主要技术指标;
间距;1.27mm            环境温度;-55—+155    接触电阻;≤0.01      

工作电压;DC500V      单脚插入力;≤0.2Kg     弹片金层厚度;3umAu:lu(镍金)