AFM原子力显微镜
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原子力显微镜

FM-Nanoview 6600AFM

一、扫描探针显微镜功能特点


1.             光机电一体化设计,外形结构简单;

2.             扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;

3.             精密激光检测及探针定位装置,光斑调节简单,操作方便;

4.             采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;

5.             伺服马达手动或自动脉冲控制,驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域定位;

6.             高大范围的样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;

7.             高大范围的压电陶瓷扫描器,根据不同和扫描范围要求选择;

8.             自由变倍的CCD观测系统,实时观测与定位探针扫描样品区域;

9.             采用伺服马达控制CCD对焦和光学放大;

10.      模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;

11.    集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用。

 


 

 

 

 


二、

1.             多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图;

2.             多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMSf-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能;

3.             可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域;

4.             可任意选择样品起始扫描角度;

5.             激光光斑检测系统的实时调整功能;

6.             针尖共振峰自动和手动搜索功能;

7.             可任意定义扫描图像的色板功能;

8.             支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能;

9.             支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正;

友好的软件界面及操作功能


 

 

 

 


三、主要技术参数

 

 



名  称

参  数

名  称

参  数

工作模式

轻敲模式、接触模式

扫描角度

任意

样品尺寸

Φ≤80mm;H≤20mm

样品移动范围

020mm

扫描范围

50um,纵向5um

马达趋近脉冲宽度

10±2m

扫描分辨率

0.2nm0.05nm

CCD放大倍数

光学放大0.65X,电子放大40X

扫描速率

0.6Hz~4.34Hz

图像采样点

256×256512×512

扫描控制

XY采用18-bit D/AZ采用16-bit   D/A

反馈方式

DSP数字反馈

数据采样

14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样

反馈采样速率

64.0KHz

仪器重量体积

40KG700*480*450mm

计算机接口

USB2.0

运行环境

运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统