有买立即优惠HP4278A电容计Agilent4278A-李海凤

品牌: | 惠普 | HP

HP4278A电容计Agilent4278A

测量速度:6.5ms/10ms/21ms

测量参数:C-D,Q,ESR,G 

C-D测量:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 

0.05%,0.0002(1MHz,21ms)

Agilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器，用于生产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。

技术指标：

测量参数

C-D，Q，ESR，G

测试信号

频率：

1kHz和1MHz±0.02%

信号电平：

0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进

测量时间：

6.5ms/10ms/21ms(典型值）

测量范围

测量参数

1kHz

1MHz正常模式

1MHz高

C

0.01pF~200.000μF

0.00001pF~1280.00pF

0.00004pF~2663.00pF

D

0.00001~9.99999

0.00001pF~9.99999

0.00001pF~0.99999

电缆长度补偿

0,1或2m

比较器：

对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试

存储卡插槽

外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选，参见下面的选件004）。

技术指标：

测量参数

C-D，Q，ESR，G

测试信号

频率：

1kHz和1MHz±0.02%

信号电平：

0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进

测量时间：

6.5ms/10ms/21ms(典型值）

测量范围

测量参数

1kHz

1MHz正常模式

1MHz高 

电缆长度补偿

0,1或2m

比较器：

对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试

存储卡插槽

外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选，参见下面的选件004）。

一般技术指标：

工作温度/湿度

  5°~45℃，在40℃时相对湿度为95%

  •4278A 1kHz/1MHz电容测试仪

  Opt W30 扩大的维修服务

  Opt 001 只1kHz测试频率

  Opt 002 只1MHz测试频率

  Opt 003 1%的频率漂移；

电源

  100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V

  Amax

尺寸

  约426mm(宽）*177mm(高）*498mm(长）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)

重量：

  约15kg(33磅，标准）

选用二手测量仪器的优势是： 

1、与新购仪器几个月的供货期相比，购买二手仪器的供货期要短的多。在 时间就是市场的今天，优势无疑是为明显的。 

2、二手仪器的价格便宜，基本为新购仪器价格的20%～50%。在电子技术迅 速发展的今天，仪器的更新也在加快，投资越少则风险越小。 

3、为了让您放心地使用我们提供的二手仪器，我们销售的二手仪器可以做到：1、保修半年至一年不等。

2、可以根据您的要求，将仪器送至计量测试单位进行校准。

备注：本公司主营二手仪器，届时本公司货源广阔，绝大部分将继续直接从国外引进，成色新，价格低，性价比极高，并且在服务方面尽努力做到！欢迎来电垂询或亲临选购，并欢迎预订。