激光测厚ZM100测透明薄膜的厚度
价格:电议
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                     激光测厚ZM100测透明薄膜的厚度

客户需求:测透明薄膜的厚度

量程:1-3mm

测量方案:采用激光测厚ZM100激光测径仪检测:将薄膜套在标准轴上,通过测标准轴和套薄膜的标准轴的直径,间接检测薄膜的厚度。5um.

检测方法如图所示:

 

应用领域

激光测厚可用于物体尺寸的非接触测量与控制,如零件高度、边缘、直径、线径、宽度、间隙、内径、外径等。有效降低了生产后的单件检验成本,并能有效节省原物料的损耗,降低人员需求。

 

激光测厚ZM100光幕式激光测厚系统频响快,高。ZM100可作为激光测厚仪进行高的激光光幕式在线测厚,满足客户多种需求。

 

激光测厚主要特点

高:线性度5um;

量程范围广:可测500mm外径的物体(可根据实际情况定制更大外径型号);

支持多个传感器同步采集(确保工业在线高差动测厚);

可以对操作系统实施不同的参数设置,改变测量方式;

在PC上十分直观的显示出测量值,方便对测量过程实施监控;

采用半导体激光器发射的激光(波长660nm)作为探测信号,抗干扰能力强;

系统带有额外的四条输出信号,带负载能力强;