德国卡尔德意志涂层测厚仪
价格:电议
地区:北京市
电 话:010-84851836
手 机:15901566103
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪简介:
  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法,是的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。
  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。
  仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。
  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。
  彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪特点:
  ◆ 大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
  ◆ 校准选项
  ◆ 出厂时已校准,立即可用
  ◆ 在未知涂层上校准*
  ◆ 零校准*
  ◆ 在无涂层的基体上一点和多点校准*
  ◆ 在有涂层的基体上校准*
  ◆ 校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出
  ◆ 可选择的显示模式,以形式去完成测量任务*
  ◆ 输入和极限监视*
  ◆ 在Windows下有简单的存储读数档案管理*
  ◆ 可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
  ◆ 统计*
  ◆ 可统计评估999个读数
  ◆ 小值、值、测量个数、标准偏差和极限监视
  ◆ 局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)
  ◆ 在线统计,所有统计值概括
  3种配置级别以更好的完成测量任务
  基本型 – 证明质量的基本特征
  型 - 附加统计评估
  型 - 统计评估和数据存储
  如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在任何时候把仪器升级为型和/或型。升级只需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。
  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪多探头选择:

  多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度    涂层厚度是20mm也是可以的。根据需求,我们也可以订做特殊探头。

技术参数:
  ◆ 数据传输接口RS232 或 USB
  ◆ 电源:电池、充电电池、USB或外接电源
  ◆ 测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
  ◆ 测量速度: 每秒测量2个数值
  ◆ 存储: 多 9999 个数值,140个文件
  ◆ 误差:
  涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
  涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
  涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
  涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um
  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件:
  试块和膜片
  探头定位装置 (适用于微型探头)
  定位辅助装置 (适用于微型探头)
  电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
  电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows