1．目的：規範陶瓷圓片電容器的客觀品質標準，讓客戶能詳細瞭解本公司該類産品，確保本公司的産品能滿足客戶的要求。

2．適用範圍：適用於本公司生産的陶瓷圓片電容器。含檢驗狀態、檢驗項目、標準參數、判斷標準、檢測方法等內容。

3．內容：

3.1檢驗環境狀態：室溫25℃±2℃，溫度65%±15%；

3.2注意事項：避免熱源對待檢品前後的影響；

3.3處理：

3.3.1待檢物須放置室溫中30分鐘以上方可檢測其電氣物性；

3.3.2待檢物檢測完耐電壓或絕緣電阻後，須放置室溫12小時後方可檢測其容值

和其他電氣特性；

3.4項目規格及檢測方式：

項 目

規    格

檢測方法及條件

1．外觀、尺寸及標誌

無異常

依外觀、尺寸及標誌標準，尺寸用遊標卡尺檢查，外觀、標誌用目視法檢驗；

2．絕緣電阻

一類

10000MΩMIN

端子間施加額定電壓施壓，500VDC以上

以500VDC測定，測定時間爲60秒以內。

二類

5000MΩMIN

三類

100MΩ×UFMIN

3．耐電壓

無破裂等明顯損壞異狀

端子間加工作電壓施壓1-5秒，充放電電流爲50mA以下。

Ι、Ⅱ类瓷:

W.V＜500VDC  T.V＝250%×W.V

W.V≧500VDC  T.V＝150%×W.V+500V

Ш类瓷：试验电压=1.5U_R

4．靜電容量

在標準允許誤差內

使用頻率：

一類：≤1000PF檢測頻率用1MHz

＞1000PF檢測頻率用1KHz

二、三類：檢測頻率用1KHz

使用電壓：

一、二類用1.0VRMS

三類用0.1VRMS