产品详情大图
德国卡尔德意志LEPTOSKOP2042涂层测厚仪优质北京泰亚赛福
价格：电议
地区：北京市
电 话：010-84851836
传 真：010-84851836

北京泰亚赛福科技发展有限责任限公司

免费会员 营业执照未上传

>
全部产品 进入商铺

商务咨询 孙伟强

LEPTOSKOP2042涂层测厚仪简介：

LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法，是的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。

LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。

仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。

LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

LEPTOSKOP2042涂层测厚仪特点：

◆　大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯

◆　校准选项

◆　出厂时已校准，立即可用

◆　在未知涂层上校准*

◆　零校准*

◆　在无涂层的基体上一点和多点校准*

◆　在有涂层的基体上校准*

◆　校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出

◆　可选择的显示模式，以形式去完成测量任务*

◆　输入和极限监视*

◆　在Windows下有简单的存储读数档案管理*

◆　可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport

◆　统计*

◆　可统计评估999个读数

◆　小值、值、测量个数、标准偏差和极限监视

◆　局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)

◆　在线统计，所有统计值概括

3种配置级别以更好的完成测量任务

基本型 – 证明质量的基本特征

型 - 附加统计评估

型 - 统计评估和数据存储

如果针对新的测量要求，而需要仪器增加新的功能，可以在任何时候把仪器升级为型和/或型。升级只需在现场输入解锁代码，“统计”和/或“统计& 数据存储”，便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。

LEPTOSKOP2042涂层测厚仪多探头选择：

多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm也是可以的。根据需求，我们也可以订做特殊探头。

 

 

标准探头Fe   0°用于宽阔的、容易测量的地方

标准探头NFe  0°

标准探头 NFe  0°

标准探头Fe  0° 用于测量表面有宽阔的涂层厚度

标准探头Fe  90°用于测量难接近的部位，

例如：管道的内部

双晶探头Fe  90°用于测量表面有宽阔的涂层

例如：管子的内部涂层.

微型探头 Fe/NFe  0° 用于测量小尺寸和难接近的部位,例如：钻孔的底部

 

微型探头 Fe/NFe  45° 用于测量小尺寸和难接近的部位

微型探头 Fe/NFe 90°用于测量小尺寸和难接近的部位，

例如：管子的内壁和钻孔

技术参数：

　　◆　数据传输接口RS232 或　USB

　　◆　电源：电池、充电电池、USB或外接电源

　　◆　测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)

　　◆　测量速度:　每秒测量2个数值

　　◆　存储: 多 9999 个数值，140个文件

　　◆　误差:

　　涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)

　　涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um

　　涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um

　　涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um

　　LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件：

　　试块和膜片

　　探头定位装置　(适用于微型探头)

　　定位辅助装置 (适用于微型探头)

　　电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理

　　电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows